เปิด-ลูปต่ำ-เครื่องทดสอบปัจจุบันสำหรับระบบกระตุ้น

MOEORW-WFC63 Open-Loop Low-เครื่องทดสอบปัจจุบันสำหรับระบบกระตุ้น

MOEORW-WFC63 excitation system open-เครื่องทดสอบกระแสไฟต่ำแบบลูปเป็นอุปกรณ์พกพาที่ออกแบบมาโดยเฉพาะสำหรับการทดสอบระบบกระตุ้น โดยผสานรวมฟังก์ชันการจ่ายไฟ โหลด และการบันทึกรูปคลื่น ช่วยให้ระบุตำแหน่งข้อผิดพลาดได้อย่างแม่นยำและใช้งานได้สะดวก เหมาะสำหรับการดีบักระบบกระตุ้น การตรวจจับข้อผิดพลาด และการตรวจสอบฟังก์ชันต่างๆ

จุดประสงค์ของการทดสอบระบบกระตุ้นในปัจจุบัน-ลูปต่ำ-คือการสร้างสภาพแวดล้อมจำลองเพื่อตรวจสอบฟังก์ชันการควบคุมพื้นฐานของตัวควบคุมการกระตุ้น ความสามารถในการกระตุ้นพัลส์ที่เชื่อถือได้ และความสมบูรณ์ของไทริสเตอร์ ซึ่งรวมถึงการตรวจสอบว่าพัลส์ทริกเกอร์ของตัวควบคุมถูกต้องหรือไม่ และพาวเวอร์บริดจ์ไทริสเตอร์สามารถทริกเกอร์ได้อย่างน่าเชื่อถือหรือไม่ ตรวจสอบว่ารูปคลื่นเอาท์พุตไทริสเตอร์ถูกต้องหรือไม่

การทดสอบระบบกระตุ้นในปัจจุบัน-ลูปต่ำ-แบบเปิดต้องใช้แหล่งจ่ายไฟ AC ภายนอก 380V โหลดตัวต้านทานที่มีความต้านทานและกำลังที่เหมาะสม และเครื่องบันทึกรูปคลื่น เพื่อจัดการกับงานที่ยุ่งยากในการเตรียมการสำหรับการทดสอบระบบกระตุ้นแบบลูปเปิด-ไซต์- เราได้พัฒนาเครื่องทดสอบกระแสแบบเปิด-แบบลูปต่ำ-สำหรับระบบกระตุ้น ซึ่งประกอบด้วยโมดูลแปลงกำลัง ตัวต้านทานโหลด และอุปกรณ์แสดงผลและอุปกรณ์จัดเก็บข้อมูล เครื่องมือนี้ประสบความสำเร็จในการเปลี่ยนผ่านสู่ดิจิทัล การย่อขนาด และความสามารถในการพกพาของการทดสอบระบบกระตุ้น-ลูปแบบเปิด

เครื่องมือทดสอบกระแส-ลูปต่ำ-แบบเปิดสำหรับระบบกระตุ้นเหมาะสำหรับการทดสอบที่ครอบคลุมของระบบควบคุมการกระตุ้นและสำหรับตำแหน่งความผิดปกติที่รวดเร็วในระบบกระตุ้น

เครื่องมือทดสอบกระแสไฟแบบเปิด-ลูปต่ำ-ของระบบกระตุ้นเหมาะสำหรับคุณลักษณะ-แบบลูปเปิดของตู้วงจรเรียงกระแสในระบบควบคุมการกระตุ้นรุ่นต่างๆ เครื่องมือทดสอบนี้ใช้งานง่าย ปลอดภัย เชื่อถือได้ ทำงานได้ดี และบำรุงรักษาง่าย สามารถทดสอบลำดับเฟสของวงจรสัญญาณการซิงโครไนซ์ของระบบกระตุ้น การเดินสายไฟของวงจรพัลส์เอาท์พุต ช่วงของมุมควบคุม วงจรทริกเกอร์บริดจ์ควบคุมทั้งหมด- และสถานะการทำงานของวงจรหลัก ช่วยให้มั่นใจได้ถึงการทำงานที่เชื่อถือได้ ปลอดภัย และเสถียรของระบบกระตุ้น

เครื่องมือทดสอบกระแสไฟ-ลูปต่ำ-แบบเปิดสำหรับระบบกระตุ้นเหมาะสำหรับการวิเคราะห์ข้อบกพร่องของระบบกระตุ้นประเภทต่างๆ ข้อผิดพลาดในวงจรฮาร์ดแวร์ เช่น วงจรการวัด วงจรสัญญาณซิงโครไนซ์ การรบกวนของวงจรพัลส์ และวงจรทริกเกอร์ไทริสเตอร์ของระบบกระตุ้น ถือเป็นข้อบกพร่องทั่วไปในระบบกระตุ้นเครื่องกำเนิดไฟฟ้า การใช้เครื่องทดสอบคุณลักษณะลูป-แบบเปิดนี้ ช่วยให้สามารถระบุตำแหน่งข้อผิดพลาดในระบบกระตุ้นได้อย่างรวดเร็ว ช่วยลดเวลาการหยุดทำงานของเครื่องกำเนิดไฟฟ้าเนื่องจากอุบัติเหตุ

หลังจากการใช้งานภาคสนาม เครื่องมือทดสอบ-ลูปกระแสไฟต่ำของระบบกระตุ้นได้ขจัดงานที่น่าเบื่อในการเตรียมการทดสอบภาคสนาม ประหยัดเวลาในการทดสอบ-ลูประบบกระตุ้นแบบเปิดได้อย่างมาก ปรับปรุงความปลอดภัยและความน่าเชื่อถือของการเดินสายทดสอบภาคสนาม และลดความเข้มของแรงงานของบุคลากรทดสอบอีกด้วย

• แรงดันไฟฟ้าอินพุต: แหล่งจ่ายไฟ AC แบบสายไฟสาม-เฟสสี่- แรงดันไฟฟ้าสาย 380V
• แรงดันไฟฟ้าเอาท์พุต: แรงดันไฟฟ้าเส้น 100V (นี่คือแรงดันไฟฟ้าเอาท์พุตมาตรฐาน ค่าแรงดันไฟฟ้าอื่นๆ สามารถปรับแต่งได้หากต้องการ) ไฟ AC สาม- เฟส ความถี่ 50Hz (ขึ้นอยู่กับความถี่ของแหล่งจ่ายไฟอินพุต) การแสดงรูปคลื่น: ค่าแรงดัน DC และพัลส์
• การจัดเก็บรูปคลื่น: แฟลชไดรฟ์ USB

♦ การออกแบบที่ผสมผสานกันเป็นการผสมผสานระหว่างการแปลงพลังงาน ตัวต้านทานโหลด และอุปกรณ์แสดงผลและการจัดเก็บ โดยไม่จำเป็นต้องใช้เครื่องบันทึกรูปคลื่นภายนอกและอุปกรณ์อื่นๆ เพิ่มเติม จึงทำให้-การเตรียมสถานที่งานง่ายขึ้น

♦ แบบดิจิตอลและพกพาได้ ทำให้สามารถทดสอบ-ลูปแบบดิจิทัลได้ อุปกรณ์ขนาดเล็กและเคลื่อนย้ายได้ง่าย ช่วยลดความเข้มแรงงานของบุคลากรทดสอบ

♦ มีฟังก์ชันที่ครอบคลุมและสามารถตรวจจับสถานะการทำงานของวงจรต่างๆ ของระบบกระตุ้นและตู้วงจรเรียงกระแสได้ นอกจากนี้ยังรองรับการทดสอบหลายรายการ เช่น เอาต์พุตพัลส์ การกระตุ้นแบบบังคับ อินเวอร์เตอร์ และการสลับเครื่อง-แบบคู่

♦ มีตำแหน่งข้อบกพร่องที่แม่นยำ และสามารถตรวจจับและกำหนดประเภทข้อบกพร่องของสะพานเรียงกระแสไทริสเตอร์ได้อย่างชาญฉลาด และค้นหาข้อบกพร่องของฮาร์ดแวร์ในระบบกระตุ้นได้อย่างรวดเร็ว

♦ ใช้งานง่าย พร้อมด้วยหน้าจอสัมผัสสี รองรับการรับรูปคลื่นแบบเรียลไทม์- และการจัดเก็บแฟลชไดรฟ์ USB และข้อมูลการทดสอบสามารถส่งออกไปยังคอมพิวเตอร์เพื่อการวิเคราะห์ได้

♦ ปลอดภัยและเชื่อถือได้ ด้วยการตรวจจับการสูญเสียเฟสและฟังก์ชันระบุข้อผิดพลาดอัจฉริยะ ขั้นตอนการทำงานที่ชัดเจน และปรับปรุงความปลอดภัยในการทดสอบสายไฟและการใช้งาน

♦ มีความสามารถในการปรับตัวได้ดีและเหมาะสำหรับการทดสอบคุณลักษณะลูป-แบบเปิดและการวิเคราะห์ข้อบกพร่องของตู้วงจรเรียงกระแสในระบบควบคุมการกระตุ้นประเภทต่างๆ